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 　　Otsuka大塚膜厚仪利用光散射作为新材料分析的核心技术，并将其应用于纳米技术领域的物性测量。以粒子大小、电位和分子量的测量方法作为基准，拓展新材料、生命科学、高分子化学，以及半导体和医药等领域的应用。

　　Otsuka大塚膜厚仪● 可携带至现场的手持式

　　具有形状的样品也可非破坏的测量

　　● 可测量0.1μm单位

　　● 不论基材材质、可测量其镀膜

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　　Otsuka大塚膜厚仪-美萨科技

　　http://www.messa.net.cn/Products-39275505.html

　　https://www.chem17.com/st657608/erlist_2591187.html