详情

蒸汽老化寿命试验箱用途及技术规格参数

来源:仪表网2022/7/7 15:14:20112
导读:

于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。

  微电脑温度控制器、LED数字显示,PID+SSR控制,白金电阻温度传感器(PT-100),分辨率0.1℃,全自动安全保护装置。

  技术规格参数:

  内部尺寸:500×400×170(W×H×D)mm ;

  外部尺寸:600×500×420(W×H×D)mm ;

  内外箱体材质:SUS304#优质不锈钢板;

  保温层:PV发泡胶

  升温时间:大约40分钟 ;控制功能:PID+SSR,数字式显示;

  蒸气温度: 97℃ ;

  计时功能:1~9999H/M/S,附时到报警功能,时间到达后切断电源 ;

  水位控制:低水位报警功能 ;

  电源:1? 220V±10% 50Hz 1.0KW

  符合:GB2423.17;GB/T5170.8-96,IEC68-2.1和ISO标准

 

版权与免责声明:凡本网注明“来源:全球制造网”的所有作品,均为浙江兴旺宝明通网络有限公司-全球制造网合法拥有版权或有权使用的作品,未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用上述作品。已经本网授权使用作品的,应在授权范围内使用,并注明“来源:全球制造网”。违反上述声明者,本网将追究其相关法律责任。 本网转载并注明自其它来源(非全球制造网)的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或和对其真实性负责,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品第一来源,并自负版权等法律责任。 如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起一周内与本网联系,否则视为放弃相关权利。

展开全部
相关技术